Hoppa direkt till huvudnavigeringen Gå direkt till innehållet

Högpresterande mikrometrar för de högsta kraven

2024-02_ODC2700__900x370px.jpg

Den nya högpresterande LED-mikrometern optoCONTROL 2700 ger oöverträffad noggrannhet för krävande mätuppgifter. Tjocklek, spalt, kanter och segment kan mätas med hög precision. Exakta mätningar av små objekt från 0,3 mm kan utföras. LED-precisionsmikrometern har en linjäritet på ≤ 1 µm och en digital upplösning på 10 nm. Den används t.ex. vid tillverkning av halvledare, inom fordonsindustrin, flyg- och rymdindustrin samt inom medicinteknik.

Den avgörande fördelen är den telecentriska optiken, som avsevärt optimerar mätnoggrannheten. Mätobjektet belyses jämnt och lutningskorrigeringen i realtid säkerställer extremt exakta mätresultat, även när mätobjektet är placerat i vinkel eller lutat. Ortogonal inriktning av mätobjektet är därför inte nödvändig.
Oavsett om det gäller starkt reflekterande objekt som valsar eller transparenta objekt som glaswafers – dessa innovativa mikrometrar erbjuder en optimal lösning överallt där det krävs maximal precision och tillförlitlighet.

Förutom exakt mätning erbjuder den integrerade kontaminationsdetekteringen en proaktiv lösning för att upptäcka kontaminering eller främmande föremål på mätytan. Denna funktion hjälper till att undvika mätfel och att höja kvaliteten på resultaten till högsta nivå.

Tack vare den integrerade kontrollerenheten behövs ingen extern styrenhet och tiden för kabeldragning och montering minimeras.
Hela konfigurationen av LED-mikrometern utförs via det integrerade webbgränssnittet. Webbgränssnittet nås via Ethernet-gränssnittet och möjliggör snabb och enkel inställning av t.ex. medelvärde eller mätfrekvens och erbjuder omfattande parametreringsalternativ för varje mätuppgift.

Sex förinställda förinställningar möjliggör en snabb och enkel inställning för mätuppgiften. Webbgränssnittet erbjuder också en skalbar svart-vit bild för enkel inriktning. Därigenom är det nu grafiskt möjligt att positionera mikrometern eller mätobjektet på ett optimalt sätt.